あらゆるクリーニングのニーズに応える豊富なラインナップ
半導体前工程のウェーハ検査工程では、不良品の流出リスクを抑えるため専用テスターの清浄度や形状を一定に保つことが重要です。ウェーハ検査工程の精度が低下してしまうと、最悪の場合は、長期間に渡りウェーハ検査を中断したり専用テスターを交換したりする必要があります。 Mipoxのクリーニングシートは、こうした専用テスターの汚れのクリーニングや、形状の形成に効果を発揮します。
PET
PETフィルム+粘着層の研磨構造。強固な付着物の除去に適しております。
・総厚…115μm
・使用環境温度…120℃
・参考OD量…30μm
・針先摩耗性…高い
SWE
基材層が発泡ポリウレタン、樹脂がポリウレタン樹脂の研磨構造(凹凸クッション上に研磨層を形成)。
低ダメージで高効率なクリーニング可能です。
・総厚…450μm
・使用環境温度…120℃
・参考OD量…50μm~80μm
・針先摩耗性…低い
※低塩素タイプ対応シート(FHX)、耐熱フィルムタイプシート(SWF)、発泡径が小さいシート(NWE)もあり。
PF3
基材がフラットクッション層の研磨構造。低ダメージ高効率なクリーニング可能です。
・総厚…300μm
・使用環境温度…120℃
・参考OD量…30μm~50μm
・針先摩耗性…低い
BC3
PETフィルム+クッション粘着層の研磨構造。
先端摩耗の少ないクリーニングが可能です。
・総厚…410μm
・使用環境温度…80℃
・参考OD量…30μm~50μm
・針先摩耗性…低い
LUAVIS
粘着剤が耐熱粘着剤、基材層がシリコーンエラストマー、研磨剤がSiCの研磨構造。
耐熱性があり、先端摩耗も少なく、弾力性による様々な形状のプローブピンに適用可能です。
・総厚…400μm
・使用環境温度…~160℃
・参考OD量…60μm~80μm
・針先摩耗性…低い
※使用環境温度は推奨となっております。
半導体のテスト工程に使用するプローブカードやソケット向けにプローブピンの異物除去や成型用途として、弊社のクリーニングシートが適用できます。
対象のプローブピンは、垂直/ラウンド(R形状や砲弾型)/ニードル/ポゴ/クラウン/MEMSとなります。
・垂直
こちらのプローブは先端がフラット形状になっておりますので、シート表面もフラットなPET/PF3/BC3が適しております。
・ラウンド/ニードル/MEMS
こちらのプローブは先端が丸くなっておりますので、シート表面が柔軟先端から側面まで接触するPF3/BC3が適しております。
・ポゴピン/クラウン
こちらのプローブは先端が鋸歯状になっておりますので、シート表面に凹凸があり、先端から側面まで接触するSWEが適しております。
with wafer、研磨盤、WAPP